線圈元件的脈沖測(cè)試技術(shù)和原理

一．什么是線圈元件的脈沖測(cè)試

1．線圈脈沖測(cè)試原理

預(yù)先對(duì)儲(chǔ)能電容C1充電，充電電壓為儀器設(shè)定得*大電壓，以一極短暫的時(shí)間將開(kāi)關(guān)SW1合上，在SW1合上器件，由于C1≥C2，C1快速對(duì)C2充電，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后SW1斷開(kāi)。同時(shí)，該激勵(lì)脈沖同時(shí)加于一被測(cè)線圈Lx，C2、Rp、Lx將呈現(xiàn)一自由衰減震蕩，該衰減震蕩呈指數(shù)下降趨勢(shì)并調(diào)制以正弦信號(hào)。根據(jù)其與諧振電容C2的衰減振蕩情況來(lái)了解線圈內(nèi)部狀態(tài)來(lái)判斷該繞線元件品質(zhì)情況:包含線圈自身的絕緣，繞線電感量，及并聯(lián)電容量等狀態(tài)。

上圖中:

線圈類(lèi)產(chǎn)品（如變壓器、電機(jī)等）由于繞線材料、磁性材料、骨架、加工工藝等因素的影響會(huì)產(chǎn)生線圈層間、匝間及引腳間等絕緣性能的降低。

線圈的脈沖測(cè)試可在不損壞被測(cè)件的條件下測(cè)試其電氣性能。這種測(cè)試方法能在短暫的瞬間判別線圈的品質(zhì)。測(cè)量時(shí)將與標(biāo)準(zhǔn)線圈測(cè)量時(shí)同樣的脈沖通過(guò)電容器放電施加于被測(cè)線圈，由于線圈電感量、雜散電容和Q值的存在，將響應(yīng)一個(gè)對(duì)應(yīng)于該放電脈沖的電壓衰減波形，比較該衰減波形的某些特征，可以檢測(cè)線圈匝間和層間短路及圈數(shù)和磁性材料的差異, 如果施加一個(gè)高電壓脈沖，根據(jù)出現(xiàn)的電暈或?qū)娱g放電來(lái)判斷絕緣不 良。

數(shù)字存儲(chǔ)式線圈脈沖測(cè)試儀：TH2882A-3/TH2882A-5/TH2882AS-5/TH2883系列

該系列產(chǎn)品采用高速數(shù)字采樣的方法，將標(biāo)準(zhǔn)線圈的波形存儲(chǔ)于儀器中，測(cè)試時(shí)將被測(cè)波形與標(biāo)準(zhǔn)波形比較，根據(jù)設(shè)定的判據(jù)（面積、面積差、過(guò)零點(diǎn)、電暈等）以決定被測(cè)線圈的優(yōu)劣。該方法有如下優(yōu)點(diǎn)：

a)       高速數(shù)字取樣使判別過(guò)程由儀器自動(dòng)完成，可排除人為影響因素；

b)       測(cè)試時(shí)無(wú)需同時(shí)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣件，所有測(cè)試使用統(tǒng)一判據(jù)，標(biāo)準(zhǔn)樣件波形可存儲(chǔ)、調(diào)用、轉(zhuǎn)存、多機(jī)共用等；

c)       可測(cè)試電感量范圍很寬，*小可測(cè)試10μH的線圈，基本適應(yīng)各種線圈產(chǎn)品的測(cè)試；

d)       高壓是瞬間輸出的，一次測(cè)試?yán)碚撋现恍栎敵鲆淮胃邏好}沖，大大延長(zhǎng)了儀器壽命。

e)       不存在顯示亮度問(wèn)題，波形可選擇在*佳狀態(tài)下顯示；

f)        由于數(shù)字化和智能化技術(shù)的采用，可執(zhí)行許多附加的分析功能，如時(shí)間與周期測(cè)量、電壓測(cè)量、多次平均、連續(xù)測(cè)試、輸出電壓的自動(dòng)電平控制（ALC）、PASS/FAILL的聲音模式選擇等；

g)       可采用多種形式的判據(jù)以分辨出被測(cè)線圈質(zhì)量的細(xì)微變化，如面積、面積差、過(guò)零點(diǎn)、電暈等。

h)       使用多種接口于不同的目的。如USB接口用于數(shù)據(jù)和標(biāo)準(zhǔn)波形的轉(zhuǎn)存和保存，IEEE488接口和RS232接口用于人機(jī)通訊或組成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，HANDLER/SCANNER接口用于自動(dòng)機(jī)械處理器和脈沖式變壓器線圈自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

二．為什么要執(zhí)行脈沖測(cè)試

一般地，由一個(gè)或多個(gè)線圈組合而成的電感器、變壓器、馬達(dá)等繞線元件需要通過(guò)下列途徑來(lái)完整地評(píng)估該線繞元件的品質(zhì)情況：

線圈之繞線電阻DCR（銅阻），繞線感量（L）圈數(shù)N、圈數(shù)比例（Np/Ns），線圈間容量（Cp），鐵芯狀態(tài)（Q，ACR，LK）等，屬于低壓參數(shù)測(cè)試，上述項(xiàng)目使用自動(dòng)變壓測(cè)試系統(tǒng)，LCR數(shù)字電橋、圈數(shù)測(cè)試儀、直流低電阻測(cè)試儀等完成。不同線圈間或線圈對(duì)鐵芯及外殼等的耐壓和絕緣程度使用耐壓測(cè)試儀和絕緣電阻測(cè)試儀。線圈自身的的絕緣程度使用脈沖式線圈測(cè)試儀（匝間絕緣測(cè)試儀）

一般生產(chǎn)過(guò)程中檢驗(yàn)合格的元件，使用于電氣電子產(chǎn)品中，即使短期功能正常，但長(zhǎng)期使用也可能因線圈自身的絕緣不佳而產(chǎn)生潛在的不 良因素，而影響產(chǎn)品的之壽命和穩(wěn)定性。

絕緣問(wèn)題導(dǎo)致產(chǎn)品不 良的表現(xiàn)：

a. 耐久性差，壽命短；

b. 抗噪聲能力不佳；

c. 高溫下穩(wěn)定性不好；

常見(jiàn)造成線圈絕緣不 良的原因：

a. 漆包線，絕緣膠帶或骨架絕緣不 良；

b. 原始設(shè)計(jì)的出線方式或加工工藝不 良；

c. 引腳間未留**距離或焊錫后的污染物的存在；

繞線工序結(jié)束，磁性材料加入前進(jìn)行脈沖測(cè)試，可發(fā)現(xiàn)如下不 良情況：

a. 線圈自身絕緣不 良（ 波形前段衰減及放電現(xiàn)象）

b. 繞線圈數(shù)或接線明顯錯(cuò)誤（Lx，前段諧振周期變化）

c. 繞線方式錯(cuò)誤（并聯(lián)電容Cx變化，后段諧振周期）

三．如何進(jìn)行脈沖測(cè)試

1.使用于何部門(mén)？

良好的設(shè)計(jì)、正確的材料使用及合理的加工過(guò)程可保證元件正常使用下的長(zhǎng)久穩(wěn)定性。

研發(fā)或工程部門(mén)：對(duì)工程設(shè)計(jì)或變更不 良進(jìn)行經(jīng)驗(yàn)證；

進(jìn)貨檢驗(yàn)：對(duì)進(jìn)貨材料質(zhì)量進(jìn)行把關(guān)，防止不 良材料混入； 

生產(chǎn)線:隨時(shí)監(jiān)測(cè)生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量情況；

2.在何工序進(jìn)行脈沖測(cè)試?

建議:在繞線工序結(jié)束, 磁性材料加入前進(jìn)行脈沖測(cè)試

原因：a. 脈沖測(cè)試的主要目的是檢驗(yàn)線圈本身的絕緣情形而非磁性材料的特性檢驗(yàn)；

    b. 磁性材料會(huì)吸收測(cè)試能量而使繞線絕緣不 良的情形顯現(xiàn)不出；

    c. 一般磁性材料的規(guī)格容許誤差較大, 而造成電感量有較大變化，而繞線絕緣差異較小,而使不 良判別不易；

若檢驗(yàn)?zāi)康牟辉诮^緣或工序無(wú)法分離可酌情在成品階段進(jìn)行，但應(yīng)考慮磁性材料加入的影響。

3.如何決定測(cè)試脈沖電壓？

建議：考慮使用電氣環(huán)境可能出現(xiàn)的*高脈沖電壓，并以其1.5～3倍的脈沖電壓進(jìn)行測(cè)試。

理由：a. 一般測(cè)試均在室溫下進(jìn)行，在元件*高使用溫度下絕緣材料的絕緣能力會(huì)降低； 

    b. 在極短測(cè)試時(shí)間內(nèi)找出須經(jīng)長(zhǎng)久絕緣劣化后方表現(xiàn)出的潛在不 良情況；

4.如何制定測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)件？

a. 依*佳標(biāo)準(zhǔn)工藝制作樣品0pcs（成品）；

b. 按規(guī)定要求檢驗(yàn)?zāi)蛪海℉i-Pot）、絕緣（IR）及低壓電氣參數(shù)（DCR，LCR，TR等）；

c. 將磁性材料去除，依實(shí)際應(yīng)用情形進(jìn)行線圈自身絕緣測(cè)試（脈沖測(cè)試），無(wú)明顯異常放電或?qū)娱g（匝間）短路者可作為標(biāo)準(zhǔn)樣品使用；

d. 在脈沖測(cè)試儀上對(duì)樣品進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)波形記憶；

e. 確定客觀容許誤差及明確的檢驗(yàn)?zāi)康摹８鶕?jù)線圈實(shí)際生產(chǎn)情況（圈數(shù)差異，高壓、絕緣承受能力等）設(shè)定面積、面積差、過(guò)零點(diǎn)和電暈的變動(dòng)范圍作為產(chǎn)品合格與否的判據(jù)；

f. 以認(rèn)定的良品與不 良品來(lái)調(diào)整檢驗(yàn)規(guī)范；

g. 判定標(biāo)準(zhǔn)記錄于作業(yè)指導(dǎo)書(shū)中；

f. 用U盤(pán)保存標(biāo)準(zhǔn)波形，或?qū)盤(pán)中標(biāo)準(zhǔn)波形再保存于微機(jī)中，以利隨時(shí)調(diào)用；

h. 保留5pcs以上的認(rèn)定樣品供日后標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)；

四．正確測(cè)試操作及**注意事項(xiàng)

注意：脈沖測(cè)試使用高壓進(jìn)行測(cè)試，操作人員必須戴高壓**手套，腳下需墊上絕緣膠墊，交流電源輸入應(yīng)有可靠的**接地，否則易發(fā)生觸電危險(xiǎn)！

正確的測(cè)試環(huán)境

為保持操作人員的**、測(cè)試儀器的正確動(dòng)作以及準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果，請(qǐng)將測(cè)試儀器的接地端子及操作臺(tái)面接地。

脈沖測(cè)試是絕緣能力測(cè)試，潮濕、污穢的操作臺(tái)面常是測(cè)量誤差的來(lái)源。

為保證測(cè)試**及操作方便性，推薦使用腳踏啟動(dòng)開(kāi)關(guān)啟動(dòng)儀器測(cè)試。

五．脈沖測(cè)試技術(shù)

實(shí)際判定方式:

面積（AREA）比較;一般使用于衰減速度的比較。

面積差（DIFF-AREA）:一般使用于振蕩頻率差異之比較。

過(guò)零點(diǎn)判別：在線圈衰減處于不同電壓時(shí)，電感量會(huì)產(chǎn)生變化，則諧振頻率也將變化，過(guò)零點(diǎn)用于頻率變化的判別。

電暈放電（Flutter）:一般使用于局部放電的檢測(cè)。

異常波形目測(cè)：若放電占整體面積比例低不易判定，測(cè)試人員可目測(cè)判定明顯異常，并可加注判定原則于作業(yè)指導(dǎo)書(shū)中。

六．同惠的脈沖測(cè)試解決方案