IT6400用于 Micro LED 集成測試越來越多的手機、電視廠商將目光投向Micro LED 技術。 Micro LED 即LED 微縮技術,是指將傳統 LED 數組化、微縮化后尋址巨量轉移到電路基板上,形成超小間距 LED ,將毫米級別的 LED 長度進一步微縮到微米級,以達到超高像素、超高解析率,理論上能夠適應各種尺寸屏幕的技術。
Micro LED具備無需背光源、能夠自發光的特性,與 OLED 相似,但相比OLED Micro LED 色彩更容易準確的調試,有更長的發光壽命和更高的亮度但功耗比LCD低90%90%,是OLED的一半 。或許能成為 OLED 之后下一代顯示技術。 顯示器的缺陷檢測是非常重要的一項測試, 但目前的檢測測量仍保持在宏觀水平,不能用于精 確測量 Micro LED 數組,而且用于評估 Micro LED 數組亮度的方法集中在總亮度的測量上,未能快速檢測 Micro LED 數組中的壞像素。因此尋找一種 快速、精 確的方法來檢查 Micro LED 的表面亮度 是非常有必要的。 Micro LED數組的亮度測量 ITECH某系統集成商用戶為Micro LED提供缺陷檢測測試系統,工作原理為: 1.使用圖像傳感器將包含著目標物亮度信息的電信號轉換成圖像。利用標準亮度計檢測待測物的亮度,獲得灰度與亮度的關系,便可以通過曝光時間和拍攝到的圖片快速得到待測物的亮度。